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产品信息
深圳凯智通 是中国*家*设计制造*、*Burn-in(烧录座） & Test Socket（测试座）和BGA/QFN IC测试治具的供应商，获得多项中国*发明*和适用新型*。
内存条测试治具产品特点及性能参数：
◆采用手动翻盖式结构，操作方便；
◆上盖的IC压板采用摆动式结构，下压平稳，*IC的压力均匀，不移位；
◆探针的*头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触*，而不会损坏锡球；
◆*的定位槽，*IC定位*，测试效率高；
◆测试准确性高，大大减少误判率；
◆采用*双头针，探针可更换，维修方便，成本低；
◆产品通用程度高，只要换IC限位框，即可测试*内存IC（宽度≤12MM）；
◆有球无球均可测试（*更换上盖的IC压板）；
◆测试寿命长，*测试10万次以上；
◆内置4个EEPROM,通过一个4位开关切换，可存储4组SPD，方便测试，节约时间；
◆*缘材料：FR4、Torlon、PEI、PEEK；
◆测试频率可达9.3GHz；
◆可以*提供相关的技术支持。
◆采用手动翻盖式结构，操作方便；
◆上盖的IC压板采用摆动式结构，下压平稳，*IC的压力均匀，不移位；
◆探针的*头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触*，而不会损坏锡球；
◆*的定位槽，*IC定位*，测试效率高；
◆测试准确性高，大大减少误判率；
◆采用*双头针，探针可更换，维修方便，成本低；
◆产品通用程度高，只要换IC限位框，即可测试*内存IC（宽度≤12MM）；
◆有球无球均可测试（*更换上盖的IC压板）；
◆测试寿命长，*测试10万次以上；
◆内置4个EEPROM,通过一个4位开关切换，可存储4组SPD，方便测试，节约时间；
◆*缘材料：FR4、Torlon、PEI、PEEK；
◆测试频率可达9.3GHz；
◆可以*提供相关的技术支持。
中国**(部分)：
*号：ZL2；ZL2.X；ZL2.7；ZL2.X；ZL 2.7；ZL 2.4；ZL 2.0