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供应eMMC169 153测试座 老化座OT式,带测试板 SDIN4C KLM
供应eMMC169 153测试座 老化座OT式,带测试板 SDIN4C KLM
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供应eMMC169 153测试座 老化座OT式,带测试板 SDIN4C KLM

型号/规格:

eMMC169 153

品牌/商标:

ANDK

PDF资料:

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产品信息


请注意,此款eMMC OT式测试座的限位框是不能更换的,一个测试座只能测一种尺寸,请下单时务*告知您所要测试的eMMC芯片尺寸,eMMC芯片的尺寸有:12*16,11.5*13,12*18,14*18这四种

我们另有可以自己更换限位框的eMMC测试座销售,一个测试座可以兼容不同尺寸的芯片,请咨询掌柜。

注意:

此款测试座只有有用的pin脚30pin装针,其它空脚没有装针,不影响测试。
如果需要满pin的测试座,请和掌柜沟通。


产品特点:

兼容有球无球测试,相比同类产品具有使用寿命长、通用性广(支持*大尺寸:14mmX18mm);

*电压可调设计,同时具备过流保护功能,可以测试flash与主控芯片电流加电流表可监测*电流);

支持热拔插,同时支持通过SD接口、排针与相应设备连接测试;

同时兼容:东芝、三星、海力士、IntelSandisk(新帝)等*同样封装的*IT8BITeMMC闪存记忆体。如图示(*相应PIN脚定义一样)

 

采用通孔焊接结构*接触良好,socketPCBA采用定位孔结合方便更换;

采用下压式结构,更加便于自动化测试,操作方便简单;

产品原理图:


二、测试:

1IC按方向平放入SOCKET内。

2选择相对应的电压,本测试治具默认电压为3.3V,如果要求为1.8V请把跳帽到23位置;

3eMMC夹具按方向插在读卡器上,打开相应的测试软件进行测试。

 

三、维修与保养

在使用本产品过程中如发现测试性能不稳定,建议用以下方法解决:

a)用*把SOCKET座里面杂质清除,使其接触良好;

b)用橡皮胶把SD接口部分金手指擦干净;

c)如发现SOCKET里面弹片有烧坏或者断裂,请购买相应SOCKET更换;

d)用万用表测量*电压是否有异常,如异常把相应不良料件更换(一般为自恢复保险丝及稳压器损坏),或者更换PCBA板;

e)严禁用天那水、洗板水等*溶剂浸泡、清洗,以免损坏SOCKET内部结构;

f)长时间不使用时,请用*静电袋密封保存,避免灰尘落入,影响产品测试性能。

 

四、技术支持

对于eMMC夹具,我们提供了*的技术服务,您有任何问题请及时与我们取得联系,我们以*快的速度给予技术支援。

   

适用芯片示例:
1、THGBM1G6D4EBA14(东芝,TOSHIBA,16x18x0.95mm,
pitch=0.5mm)
2、SDIN4C2-4G(新帝,SanDisk, 16x12x0.85mm, pitch=0.5mm)
IC编号     容量    封装     大小
SDIN4C1-4G 4Gx 8 FBGA169  16x12x0.85mm
SDIN4C1-8G 8Gx 8 FBGA169  16x12x0.85mm
SDIN4C2-8G 8Gx 8 FBGA169  16x12x0.85mm
SDIN3C2-2G 2Gx 8 FBGA169  16x12x0.85mm
SDIN3C2-4G 4Gx 8 FBGA169  16x12x0.85mm
SDIN3C2-8G 8Gx 8 FBGA169  16x12x0.85mm

3、KLM2G1DEDD-A101(三星,SAMSUNG,16x12x0.85mm, pitch=0.5mm)
Density Part number Org PKG PKG size MMC ver Status

1GB KMAFG0000A-S998 x8 153FBGA 11.5x13 MM*.2 MP
2GB KLM2G1DEFD-A301 x8 169FBGA 12x16 MM*.3 MP
4GB KLM4G2DEFD-A301 x8 169FBGA 12x16 MM*.3 MP
4GB KLM4G1DEHM-B101 x8 169FBGA 14x18 MM*.3 CS
8GB KLM8G4DEFD-A301 x8 169FBGA 12x16 MM*.3 MP
8GB KLM8G2DEHM-B101 x8 169FBGA 14x18 MM*.3 CS
16GB KLMAG8DEFD-A301 x8 169FBGA 12x16 MM*.3 MP
16GB KLMAG4EEHM-B101 x8 169FBGA 14x18 MM*.3 CS
32GB KL*G8EEHM-B101 x8 169FBGA 14x18 MM*.3 CS